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NEWS 2001년11월

에스이오,
초미세 표면분석기술 세계 5번째 개발

액정표시장치(LCD)·플라즈마디스플레이(PDP) 제조공정 등에서 요구되는 초미세 표면처리 측정 기술 및 기기가 국내 벤처에 의해 개발됐다.
안산테크노파크 소재 벤처기업인 에스이오(대표 박장호)는 자체기술로 접촉각 측정분석기를 개발, 안정성 검증을 마치고 본격 양산에 들어간다고 밝혔다.

접촉각 측정분석기는 분석대상의 표면에 물방울 모양의 액체시료를 떨어뜨린 후 이미지를 촬영해 이를 접촉각 측정 알고리듬으로 분석해 주는 기기로서 이 기기를 통해 시약과 물체 표면간 기울기를 분석하면 측정을 원하는 대상물체의 표면처리상태를 옹스트롬(Å=10의 마이너스 10승m) 수준까지 정확하게 측정할 수 있게 된다.

따라서 LCD나 PDP 제조업체들은 제품 표면의 청정도 등을 분석하고 기판위에 형성될 박막의 접착력 등을 측정·제어함으로써 높은 수율을 확보할 수 있게 된다.
또 DNA칩 제조시 특별한 기술로 형성된 옹스트롬 크기의 미세단위박막 변화시 이를 측정해 분석할 수 있도록 해준다고 에스이오측은 설명했다.

지금까지 초미세 표면분석기를 개발·생산하는 국가는 미국·일본·독일·스웨덴 등 4개국에 불과하다.
에스이오는 그동안 국내 기업연구소 및 대학에서 대당 3만달러에 공급되던 이 접촉각 측정분석기를 외산의 절반가격에 공급키로 했다.

이 회사는 이 기기에 대한 ISO9001 인증과 산자부 국산신기술(NT) 마크를 획득했으며 포항공대를 비롯한 국내 주요 대학 및 기업체 연구소 등에 제품을 공급해 제품 안정성과 기술력 검증을 마쳤다.
에스이오는 중국과 일본을 포함한 아시아지역 마케팅 본격화는 물론 CE인증 획득을 통해 유럽시장에도 진출할 계획이다.
문의 (031)495-9467

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