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NEWS 2000년 9월


메모리앤테스팅,
메모리 병렬 테스터 자체 개발

메모리앤테스팅(대표 강경석)은 메모리의 성능, 불량 등에 대한 테스트를 실제환경과 유사하게 검사할 수 있는 병렬소자 테스터(parallel component tester, 모델명 PCT-256)를 개발했다고 최근 밝혔다.
회사측은 기존 반도체 테스트 공정이 테스트 시스템, 핸들러 등으로 구성돼 많은 비용이 들어갔으나, 이번 테스터는 핸들러가 필요없어 10배 이상의 장비 투자효율을 올릴 수 있다고 설명했다.

이번에 개발한 「PCT-256」는 로더(loader), 테스터 유닛, 언로더(un-loader) 등으로 구성되고 자동화를 위해 테스터와 핸들러를 일체화했으며 256병렬(para) 테스트도 가능한 것이 특징이다.
또 기존 테스트 시스템에서 파악하기 힘든 칩의 불량을 실장환경에서 쉽게 스크린할 수 있으며, 기존 64para 테스트 핸들러와 비교해 4배(256para)의 성능을 낼 수 있다. 이외에 장비크기를 소형화해 좁은 면적에도 설치가 가능하다.

이 회사 강경석 사장은 『기존에 실시해온 칩 테스트 후 실장검사와 유사한 작업을 함으로써 칩의 품질수준을 높일 수 있다』며 『테스트를 위한 장비투자비가 적게 들기 때문에 메모리 생산업체의 검사장비 투자비용을 최소화할 수 있다』고 말했다.

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