NEWS 1999년 6월

광주과학기술원, "비접촉 3차원 측정기" 개발

반도체 웨이퍼를 생산하거나 정밀기기측정, 3차원 형상복원 등에 필수적인 디지털 방식의 비접촉 3차원 측정기술이 국내 연구진에 의해 개발됐다.

광주과학기술원 기전공학과 최태선 교수팀은 측정된 디지털 영상정보를 이용, 물체의 3차원 형상을 복원할 수 있는 비접촉 3차원 측정시스템(디지털 마이크로스코프)을 개발하는데 성공했다고 발표했다.

이번에 개발한 비접촉 3차원 측정시스템은 광학렌즈에서 얻어진 물체의 위치상에 나타난 각각의 영상초점 정보를 추출, 디지털 데이터로 변환해 물체의 3차원 정보를 보다 정확히 측정할 수 있는 시스템으로 기존 고체촬상소자(CCD)카메라를 통해 얻은 영상정보를 이용한 스테레오방식이나 물체의 그림자 정보를 이용하는 셰이딩(Shading)방식에 비해 측정분석 능력이 뛰어난 게 특징이다.